Простий
пошук
Розширений
пошук
Покажчики
Професійний
пошук
Рубрикатор
НБУВ
Розподілений
пошук

Бази даних

Наукова періодика України - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (1)Реферативна база даних (15)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій


Пошуковий запит: (<.>A=Vakulenko O$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 3
Представлено документи з 1 до 3
1.

Lysiuk V. O. 
Formation of blisters in thin metal films on lithium niobate implanted by keV Ar+ ions [Електронний ресурс] / V. O. Lysiuk, N. L. Moskalenko, V. S. Staschuk, M. I. Kluy, O. V. Vakulenko, I. G. Androsyuk, M. A. Surmach, V. I. Pogoda // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2010. - Vol. 13, № 1. - С. 103-109. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2010_13_1_23
Bubble-like and crater-like blisters were observed at the boundaries of the structures "thin Ni film - lithium niobate" and "thin Pd film - lithium tantalate" implanted by Ar<^>+ ions. Analyses of these systems by AFM and SEM have shown that ion implantation essentially modifies near-surface structures with changing their optical, electrical and mechanical properties. Differences in the optical properties and surface structure between implanted and non-implanted systems are observed and explained by different properties of materials, widening interface "film - substrate" as well as by other known effects and phenomena. Enhanced adhesion of these films to substrate, nonselective spectral response is a base for effective and perspective application of the systems in development of high-sensitive pyroelectric detectors with a wide spectral range and high optical damage threshold.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.892 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
2.

Vakulenko O. V. 
Degradation of chlorophyll luminescence in plants [Електронний ресурс] / O. V. Vakulenko, O. O. Grygorieva, O. I. Dacenko // Ukrainian journal of physics. - 2012. - Vol. 57, № 2. - С. 256-259. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2012_57_2_29
Вивчено явище деградації інтенсивності фотолюмінесценції хлорофілу водної рослини Vallisneria spiralis L. Показано, що деградаційна крива досить добре описується сумою двох гіперболічних функцій. За низьких температур швидкість деградації інтенсивності зменшується. За кімнатної температури з припиненням опромінення спостережено повільне відновлення люмінесцентної системи. За температури рідкого азоту відновлення не виявлено. Побудовано спрощену модель, яка описує деградацію люмінесценції системи за квадратичним законом.
Попередній перегляд:   Завантажити - 455.299 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
3.

Vakulenko O. V. 
Degradation of chlorophyll luminescence in plants [Електронний ресурс] / O. V. Vakulenko, O. O. Grygorieva, O. I. Dacenko // Український фізичний журнал. - 2012. - Т. 57, № 2. - С. 256-259. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2012_57_2_29
Вивчено явище деградації інтенсивності фотолюмінесценції хлорофілу водної рослини Vallisneria spiralis L. Показано, що деградаційна крива досить добре описується сумою двох гіперболічних функцій. За низьких температур швидкість деградації інтенсивності зменшується. За кімнатної температури з припиненням опромінення спостережено повільне відновлення люмінесцентної системи. За температури рідкого азоту відновлення не виявлено. Побудовано спрощену модель, яка описує деградацію люмінесценції системи за квадратичним законом.
Попередній перегляд:   Завантажити - 455.299 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського